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基于CAD图形的检测
Camtek开发了独特的软件解决方案,通过使用CAD设计文件作为参考图形来简化检测程式设置。
这种基于CAD标准的检测程式设置支持导入芯片、光罩、晶圆和面板级别的CAD文件(如GDSII格式),并将其用作理想的晶圆设计图形。
对于具有精细结构和特征的晶圆设计,使用CAD设计文件作为参考尤为关键,可通过精准覆盖图中最关注的区域,实现晶圆特征的完美区域叠加。
产品亮点
- 简洁的程式创建步骤,通过导入CAD文件快速实现检测程式设定
- 适用于复杂芯片布局,无需手动为复杂结构创建检测区域
- 对高分辨率检测(X10或X20)至关重要
- 支持离线检测程式创建
- 适用于晶圆、面板、光罩和掩模检测
