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Hawk

Hawk基于创新平台开发,为先进工艺Chiplets、HBM(高带宽存储器)及混合键合等先进封装应用而设计。

这一产品系列源自多年专注的研发成果,旨在满足从研发到高产能量产过程中,对检测与量测日益增长的需求。

产品亮点

  • 缺陷检测精度小至0.1μm
  • 产能较Eagle G5提升 2 倍
  • 采用CTS第九代技术,可实现小于5μm间距、4μm关键尺寸的Bump检测与量测应用
  • 单片晶圆检测与量测应用高达5亿个Bump
  • 配备第二代红外光学系统,可用于检测与量测:基于0.5μm缺陷检测能力达10WPH;套刻精度量测重复性小于15nm
  • EDC(增强型检测能力):基于实时机器学习模型,提升对关键缺陷的识别精度,降低误报

产品

Eagleᵀ-AP

同一平台兼具2D与3D量测与检测能力

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Eagleᵀ-i Plus

卓越缺陷检测性能

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Eagleᵀ-i

高效精准缺陷检测

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Eagleᵀ-AP Plus

业界标杆级解决方案

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Golden Eagle

专为面板级封装检测与量测设计

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MicroProf® TL

配备可编程温控的光学量测系统

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MicroProf® 300

高效能的量测机台,适用于质量管控、研发及制造各工序

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Acquire Automation XT

简化的程式创建,支持多传感器量测与混合量测

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Mark III -- 量测分析软件

专业处理、评估与呈现2D/3D量测结果

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SurfaceSens

用于混合表面工艺控制的模块化光学量测系统

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MicroProf® 200

通用型独立式量测工作站

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MicroProf® MHU

专为半导体、MEMS与LED行业设计的双手臂式机器人物料传输系统

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MicroProf® FS

面向MEMS与晶圆厂的多传感器技术与混合量测方案

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MicroProf® FE

全自动前端制程量测系统

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MicroProf® AP

灵活搭配多传感器的量测机台,适用于先进封装工序

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MicroProf® DI

高精度光学表面检测,专为半导体应用打造

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MicroProf® PT

面向先进封装半导体中的面板级量测与检测

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Eagle G5

专为实现无与伦比的扫描速度和生产效率而设计

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Hawk

面向尖端先进封装应用

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360°Scan

单独模组设计,可在Eagle与Hawk平台上模块化扩展,实现360°全面扫描

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