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膜厚量测

各种封装工艺步骤中应用的薄膜层需要进行专门的量测以确保其均匀性与质量。Camtek专有的膜厚传感器具备亚μm级量测能力,利用光干涉从涂层表面反射,从而精确获取涂层厚度。

产品亮点

  • 适用于封装工艺过程中的薄膜量测
  • 亚μm及多层厚度量测
  • 适配于研发和大批量生产两种环境

产品

Eagleᵀ-AP

同一平台兼具2D与3D量测与检测能力

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Eagleᵀ-i

高效精准缺陷检测

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Eagleᵀ-i Plus

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